Аналитические приборы и лабораторное оборудование, газовые хроматографы, хромато-масс-спектрометры, газохроматографические анализаторы, приборы для ВЭЖХ, высокоэффективные жидкостные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, ИК-Фурье спектрометры, Рамановские спектрометры, БИК спектрометры, промышленные БИК анализаторы пищевых продуктов, УФ спектрофотометры, флуориметры, спектрофлуориметры, атомно-абсорбционные спектрофотометры, элементные анализаторы, рентгенофлуоресцентные спектрометры для анализа металла, оптико-эмиссионные анализаторы элементного состава металлов, сплавов, спектрометры ИСП, масс-спектрометры, газоаналитические приборы, масс-спектрометрические газоанализаторы.
Manufacturers and suppliers of X-ray spectroscopy equipment, X-ray fluorescence spectrometry instruments, X-ray diffraction instruments (X-ray fluorescence spectrometers, portable XRF spectrometers, X-ray fluorescence spectrometers for metal sorting, alloy checking, handheld portable XRF metal analyzers, X-ray fluorescence spectrometers for precious metals analysis, XRF gold analyzers, X-ray fluorescence sulfur-in-oil analyzers, XRF total sulphur analyzers, process X-ray fluorescence spectrometers, process XRF analyzers, X-ray fluorescence spectrometers for surface microanalysis, element mapping and imaging, X-ray microanalysis systems, X-ray microspectrometers, XRF microanalyzer systems, X-ray diffractometers, XRD systems). Производители и поставщики оборудования, приборов для рентгенофлуоресцентного анализа, рентгеноструктурного анализа (рентгенофлуоресцентные спектрометры, портативные, ручные рентгенофлуоресцентные спектрометры, рентгенофлуоресцентные анализаторы состава металла, марки сплава, спектрометры для определения содержания драгоценных металлов, золота в сплавах, рентгенофлуоресцентные анализаторы содержания серы в нефти, нефтепродуктах, промышленные рентгенофлуоресцентные анализаторы, рентгенофлуоресцентные аналитические микроскопы, рентгеновские микроспектрометры, рентгеновские дифрактометры.
Manufacturers and suppliers of X-ray microanalysis systems, micro XRF analyzers (X-ray microanalysis instrumentation, WD X-ray spectrometers, ED X-ray spectrometers, XRF microspectrometers, X-ray fluorescence spectrometers for surface microanalysis, element mapping and imaging). Производители и поставщики рентгеновских микроаналитических систем, микро-рентгенофлуоресцентных спектрометров для элементного микроанализа поверхности материалов, элементного картирования, визуализации химического состава поверхности.
International companies index. Международный указатель компаний.
Bruker Corporation.
Bruker производит квадрупольные масс-спектрометры, времяпролетные масс-спектрометры, гибридные масс-спектрометры, Фурье масс-спектрометры сверхвысокого разрешения, масс-спектрометрические системы для биомединских исследований, микробиологии, фармакологии, фармацевтики, газовые хромато-масс-спектрометры, жидкостные хромато-масс-спектрометры, ИК-Фурье спектрометры, БИК-Фурье спектрометры, Рамановские спектрометры, ИК-Фурье и Рамановские микроскопы, промышленные БИК анализаторы, ЯМР спектрометры, ЭПР спектрометры, рентгенофлуоресцентные спектрометры, портативные рентгенофлуоресцентные анализаторы, рентгеновские дифрактометры, приборы для рентгеноструктурных исследований, кристаллографии, приборы для анализа элементного состава металла, искровые оптико-эмиссионные спектрометры, портативные детекторы химического оружия, биологического оружия, портативные масс-спектрометры, спектрометры ионного дрейфа, портативные ИК-Фурье спектрометры, приборы радиационного контроля. Подразделения Bruker AXS, Bruker BioSpin, Bruker Daltonics, Bruker Optics предлагают широкий выбор приборов для решения научных и прикладных задач, аналитической химии, биотехнологии, микробиологии, медицины, фармацевтики, автоматизации научных исследований, контроля технологических процессов, контроля качества продукции пищевой и фармацевтической промышленности.
Bruker AXS производит рентгенофлуоресцентные спектрометры, портативные рентгенофлуоресцентные спектрометры, анализаторы элементного состава металла, рентгенофлуоресцентные спектрометры для микроанализа поверхности материалов, рентгеновские дифрактометры, приборы для рентгеноструктурного анализа, кристалографии. Производит компоненты и комплектующие детали для рентгеновских спектрометров и дифрактометров - источники рентгеновского излучения, рентгеновские трубки, детекторы рентгеновского излучения, рентгеновскую оптику. Bruker AXS производит атомно-силовые микроскопы / сканирующие зондовые микроскопы (AFM/SPM systems). Bruker AXS производит аналитические приборы для определения элементного состава металла, искровые оптико-эмиссионные спектрометры для анализа состава металлов, идентификации сплавов, портативные рентгенофлуоресцентные спектрометры - анализаторы металлов и сплавов. Производит радиационные спектрометры для ядерных исследований, гамма-спектрометры.
CAMECA.
Французская приборостроительная компания (подразделение AMETEK Materials Analysis Division), производитель аналитического оборудования для полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, нанотехнологий, материаловедения, геохимии, приборов для изучения микроструктуры материалов, анализа химического и изотопного состава поверхности полупроводниковых материалов, наноматериалов, геологических образцов, элементного картирования на уровне микрометров и нанометров. Компания CAMECA производит приборы для микроанализа на основе рентгеновской эмиссионной спектроскопии: низкоэнергетические рентгеновские эмиссионные микроспектрометры для неразрушающего послойного анализа элементного состава полупроводниковых материалов, микросхем (low energy X-ray emission spectrometry microanalysis systems), электронно-зондовые микроаналитические системы (EPMA, electron probe microanalysis systems), включающие высокоэнергетическую (40 кВ) электронную пушку для определения тяжёлых элементов, работающие параллельно волновые рентгеновские эмиссионные микроспектрометры (до 5 волновых рентгеновских спектрометров) + энергодисперсионный рентгеновский эмиссионный микроспектрометр, оптический микроскоп + детектор для полевой ионной микроскопии (FIM, field ion microscopy detector) для металлографического анализа. Электронно-зондовая микроаналитическая система (EPMA, electron probe microanalysis systems) работает аналогично системе включающей сканирующий электронный микроскоп (SEM) и рентгенофлуоресцентный зондовый микроспектрометр, но обладает более широкими возможностями для элементного микроанализа и картирования химического состава поверхности материалов. CAMECA производит магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава поверхности материалов, полупроводниковых пластин, микросхем, геологических образцов, минералов (magnetic sector SIMS microprobe analyzers, quadrupole SIMS microprobe analyzers). Производит также лазерные атомно-силовые аналитические микроскопы (laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system) для трехмерного элементного анализа и послойного картирования на уровне микрометров и нанометров. CAMECA производит по заказу экранированные микроаналитические системы для радиоактивных образцов (масс-спектрометры вторичных ионов и электронные аналитические микроскопы для работы с радиоактивными материалами). 
Компания CAMECA производит промышленное микроаналитическое оборудование для неразрушающего контроля качества кремниевых пластин с микросхемами для полупроводниковой промышленности, микроэлектронной промышленности (автоматизированные приборы для аналитического контроля технологических процессов при производстве интегральных микросхем): поточный рентгеновский эмиссионный спектрометр - анализатор полупроводниковых пластин (in-line low energy X-ray emission spectrometer system) и автоматизированный квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов для анализа поверхности полупроводниковых пластин (automated full wafer quadrupole SIMS analyzer).
EDAX.
Приборостроительная компания (входит в AMETEK Materials Analysis Division), производитель приборов для рентгенофлуоресцентного микроанализа, изучения микроструктуры материалов, кристаллографии, металлографии, элементного анализа в сочетании с электронной микроскопией (зондовые рентгенофлуоресцентные микроспектрометры для сканирующих электронных микроскопов и просвечивающих электронных микроскопов, ДОЭ-приставки для дифракции отраженных электронов в растровом электронном микроскопе). Компания EDAX производит зондовые волновые рентгенофлуоресцентные спектрометры для установки на сканирующие электронные микроскопы (SEM systems) и просвечивающие электронные микроскопы (TEM systems). Производит энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные зондовые микроспектрометры для установки на электронные микроскопы. Производит многофункциональные приборы для элементного микроанализа, картирования и изучения микроструктуры материалов, кристаллографии - на электронный микроскоп одновременно устанавливаются: энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр и приставка для дифракции отраженных электронов, ДОЭ (EDS + EBSD system), энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр и волновой рентгенофлуоресцентные спектрометр (EDS + WDS system), энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр, приставка для дифракции отраженных электронов и волновой рентгенофлуоресцентные спектрометр (EDS + EBSD + WDS system). Компания EDAX производит рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (micro-XRF spectrometers, micro-XRF analyzers, рентгеновские аналитические микроскопы) для точечного анализа элементного состава материала, металла, неразрушающего контроля качества в микроэлектронной промышленности, измерения толщины и химического состава покрытий, материаловедения, геологии, минералогии, криминалистики, судебно-химической экспертизы.
FEI Company.
Транснациональная приборостроительная компания, производитель сканирующих электронных микроскопов, просвечивающих электронных микроскопов, оборудования для электронной микроскопии и элементного микроанализа, приборов для микроструктурного анализа с помощью дифракции отражённых электронов, эмиссионной рентгеновской спектроскопии, рентгеновского микроанализа химического состава поверхности материалов, полупроводников, контроля качества в микроэлектронной промышленности. FEI Company производит сканирующие электронные микроскопы, просвечивающие электронные микроскопы, комбинированные двухлучевые приборы для электронной / ионной микроскопии, трёхмерного микроструктурного и  элементного микроанализа (SEM/FIB systems), приборы с фокусированным ионным пучком (focused ion beam, FIB systems) для трёхмерного микроструктурного анализа и обнаружения дефектов полупроводниковых пластин, подготовки образца для анализа на просвечивающем электронном микроскопе. Компания производит приборы высокого класса как для научных исследований в области материаловедения, создания новых наноматериалов, нанотехнологии, микроэлектроники, так и для технологического контроля на производстве интегральных микросхем. 
FEI Company производит системы объединяющие сканирующий электронный микроскоп и просвечивающий электронный микроскоп (scanning / transmision electron microscope, S/TEM system), сканирующий электронные микроскоп и рентгеновский энергодисперсионный спектрометр, рентгеновский волновой спектрометр, оборудование для дифракции отраженных электронов, полевой эмиссионной спектрометрии (SEM + EBIC, EDS, WDS, EBSD, FEG = аналитический сканирующий электронный микроскоп). Компания производит сканирующие электронные микроскопы со встроенной ионной оптикой, двухлучевые системы (FIB/SEM systems)- в этих приборах к возможностям трехмерного микроструктурного анализа и элементного микроанализа добавляется подготовка образца с помощью сфокусированного ионного пучка для анализа на просвечивающем электронном микроскопе. FEI Company производит ионно-лучевые приборы (focused ion beam, FIB systems) для трёхмерного анализа микроструктуры поверхности кремниевых полупроводниковых пластин, обнаружения дефектов, непрерывного технологического контроля качества на производстве интегральных микросхем, производит автоматизированный анализатор дефектов полупроводниковых пластин для предприятий микроэлектронной промышленности.
Gatan, Inc.
Компания Gatan производит дополнительное оборудование и программное обеспечение расширяющие возможности сканирующих электронных микроскопов и просвечивающих электронных микроскопов. Производитель оборудования для электронной микроскопии, приборов для элементного микроанализа, элементного картирования, аналитических микроскопов, спектрометров для электронных микроскопов, цифровых систем обработки изображения, построения трёхмерного отображения микроструктуры образца, лабораторного оборудования для пробоподготовки. Компания Gatan производит широкий спектр дополнительного оборудования, приборов для спектрального анализа которые устанавливаются на сканирующий электронный микроскоп или просвечивающий электронный микроскоп и превращают его в аналитический микроскоп, систему для послойного изучения микроструктуры и химического состава образца с высоким разрешением (нанометры), компьютерного анализа изображения, построения трехмерной модели внутренней структуры образца, томографического исследования микроструктуры образца (3D tomographic imaging). Gatan производит лабораторное оборудование для подготовки образца для электронной микроскопии, микроструктурного анализа, держатели образца для просвечивающих электронных микроскопов (широкий спектр держателей образца для различных вариантов электронной микроскопии, микроанализа, с нагревом образца, охлаждением образца, криогенным охлаждением образца, томографического исследования внутренней структуры образца). Производит охлаждаемые цифровые камеры для просвечивающих электронных микроскопов (cooled CCD cameras for transmission electron microscopes) которые можно установить на любой просвечивающий электронный микроскоп и получить прибор с широкими аналитическими возможностями. Производит спектрометры для аналитических просвечивающих электронных микроскопов (electron energy loss spectroscopy, EELS systems, energy-filtered TEM, EFTEM systems). Производит оборудование для сканирующей - просвечивающей электронной микроскопии (scanning-mode TEM, STEM), криогенные системы охлаждения для сканирующих электронных микроскопов, аналитические приставки, рентгеновские спектрометры, программное обеспечение для спектрального анализа, катоднолюминисцентного анализа, наблюдения дифракции отраженных электронов, трехмерной томографии для сканирующих электронных микроскопов. Для трёхмерной электронной микроскопии биологических образцов компания Gatan производит специальный ультрамикротом для работы со сканирующим электронным микроскопом, который делает срезы во время исследования образца (послойное сканирование образца). Компания Gatan производит также ренгеновский микроскоп, который монтируется на сканирующий электронный микроскоп (SEM-hosted high resolution X-ray microscope) и работает совместно с ним, что позволяет изучать внутреннюю структуру образца без получения среза.
HORIBA.
Производитель широкого спектра аналитических приборов: спектрофлуориметров, Рамановских спектрометров и микроскопов, БИК спектрометров, инфракрасных газоаналитических приборов, промышленных ИК-Фурье, УФ газоанализаторов, элементных анализаторов, рентгенофлуоресцентных спектрометров и микроскопов, рентгенофлуоресцентных анализаторов серы в нефти и нефтепродуктах, оптико-эмиссионных спектрометров, приборов для контроля загрязнения воздуха, поточных анализаторов дымовых газов, приборов для анализа воды, контроля качества питьевой воды, анализаторов размера, формы, поверхности частиц сыпучих материалов, анализаторов зета-потенциала. Производит Рамановские спектрометры, Рамановские аналитические микроскопы, модульные спектрофлуориметры, флуоресцентные аналитические микроскопы. Производит приборы для элементного анализа: элементные анализаторы кислорода, азота, водорода, серы, углерода, оптико-эмиссионные спектрометры с индуктивно-связанной плазмой, оптические эмиссионные спектрометры с тлеющим разрядом, энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры, рентгенофлуоресцентные анализаторы содержания серы в нефти и нефтепродуктах, рентгенофлуоресцентные аналитические микроскопы (рентгенофлуоресцентные микроспектрометры для элементного микроанализа поверхности материалов). Производит приборы для контроля качества поверхности полупроводниковых пластин, приборы для анализа компонентного состава тонких пленок, определения толщины пленки (спектральные эллипсометры).
IXRF Systems, Inc.
Американская приборостроительная компания, специализация - дополнительное микроаналитическое оборудование для электронной микроскопии, приборы для элементного картирования и количественного элементного микроанализа, рентгенофлуоресцентного микроанализа химического состава поверхности материалов (рентгеновские аналитические приборы для электронных микроскопов). Производитель рентгеновских эмиссионных микроспектрометров, рентгенофлуоресцентных микроспектрометров для электронных микроскопов. Компания IXRF Systems производит аналитические приставки к электронным микроскопам: энергодисперсионные рентгеновские микроспектрометры (EDS detectors, EDS microanalysis and imaging systems for electron microscopes) и энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (micro-EDXRF spectrometer system). Предлагает модернизацию и расширение возможностей рентгеновских спектрометров установленных на электронный микроскоп (EDS system upgrades). Компания IXRF Systems производит встраиваемые приборы для проведения количественного рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа материалов, исследуемых на электронном микроскопе, например геологических образцов (integrated XRF microanalysis in the SEM): источник сфокусированного рентгеновского излучения для установки на сканирующий электронный микроскоп, оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром, и комплектный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с поликапиллярной рентгеновской оптикой для сканирующих электронных микроскопов (micro-XRF spectrometer system). Использование дополнительного рентгеновского излучения для возбуждения образца по сравнению с электронным лучём сканирующего электронного микроскопа улучшает соотношение сигнал/шум более чем на порядок, повышает чувствительность и точность определения элементного состава образца, обеспечивает количественный элементный анализ образца внутри сканирующего электронного микроскопа. Поликапиллярная рентгеновская оптика рентгенофлуоресцентного микроспектрометра для сканирующих электронных микроскопов обеспечивает диаметр рентгеновского луча (анализируемое пятно на поверхности образца) в 40-60 микрометров. Рентгенофлуоресцентный микроспектрометр для установки на  сканирующий электронный микроскоп позволяет получить данные о микроструктуре образца, послойном элементном составе, толщине слоёв и распределении элементов на поверхности образца и внутри слоёв (рентгеновский аналитический микроскоп + сканирующий электронный микроскоп). Источник сфокусированного рентгеновского излучения для установки на сканирующий электронный микроскоп имеет больший диаметр рентгеновского луча (анализируемое пятно на поверхности образца)- от 500 микрометров, но также превращает сканирующий электронный микроскоп, оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром в рентгенофлуоресцентный анализатор. Источник сфокусированного рентгеновского излучения и рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с поликапиллярной рентгеновской оптикой монтируются на различные модели сканирующих электронных микроскопов и могут работать совместно с рентгеновскими микроспектрометрами других производителей.
JEOL Ltd.
Приборостроительная компания, производитель аналитического и научного оборудования, приборов для электронной микроскопии, изучения микроструктуры и наноструктуры образца, приборов для микроанализа химического состава поверхности материалов, приборов для спектрометрии ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса, приборов для масс-спектрометрии, хромато-масс-спектрометрии, рентгенофлуоресцентного элементного анализа, приборов для клинико-диагностической лаборатории, клинических биохимических анализаторов, аминокислотных анализаторов, лабораторных информационных систем. Компания JEOL производит просвечивающие электронные микроскопы, сканирующие электронные микроскопы, атомно-силовые микроскопы, приборы для спектрального микроанализа и послойного сканирования микроструктуры поверхности образца (electron probe microanalyzers, EPMA), аналитические сканирующие электронные микроскопы (сканирующий электронный микроскоп + энергодисперсионный спектрометр для элементного микроанализа), Оже спектрометры (field emission Auger microprobe analyzers), рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (X-Ray  photoelectron spectrometers, XPS). Компания JEOL производит секторные магнитные масс-спектрометры высокого разрешения, системы масс-спектрометр / масс-спектромер высокого разрешения (МС-МС). Производит магнитный секторный масс-спектрометр высокого разрешения для анализа диоксинов (магнитный масс-спектрометр для количественного определения диоксинов). Производит магнитные хромато-масс-спектрометры, квадрупольные хромато-масс-спектрометры, времяпролетные хромато-масс-спектрометры. JEOL производит магнитный газовый хромато-масс-спектрометр среднего разрешения (магнитный ГХ-МС), квадрупольный газовый хромато-масс-спектрометр (квадрупольный ГХ-МС), времяпролетный газовый хромато-масс-спектрометр (времяпролётный ГХ-МС), времяпролетный жидкостный хромато-масс-спектрометр (время-пролётный ВЭЖХ-МС). Компания JEOL производит исследовательские спектрометры ядерного магнитного резонанса высокого разрешения, спектрометры электронного парамагнитного резонанса (ЯМР спектрометры, ЭПР спектрометры). Производит рентгенофлуоресцентные спектрометры для элеметного анализа (лабораторный рентгенофлуоресцентный анализатор). Компания JEOL производит также автоматизированное (роботизированное) лабораторное оборудование, автоматизированные аналитические приборы для биохимической клинико-диагностической лаборатории: биохимический анализатор, аминокислотный анализатор, лабораторную информационную систему для клинико-диагностической лаборатории.
Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Приборостроительная компания, производитель аналитического оборудования для полупроводниковой промышленности, приборов для неразрушающего элементного микроанализа, измерения толщины и состава слоев на поверхности полупроводниковых материалов. Компания Jordan Valley Semiconductors производит автоматизированные аналитические приборы для изучения и контроля характеристик тонких плёнок, определения химического состава и толщины слоёв на поверхности пластин полупроводниковых материалов, контроля качества, технологического контроля для полупроводниковой промышленности и электронного машиностроения. Компания производит рентгеновские аналитические приборы для автоматизированного технологического контроля на производстве интегральных  микросхем. Компания Jordan Valley Semiconductors производит многоканальные автоматические установки для метрологического и технологического контроля пластин полупроводниковых материалов с использованием отражательного рентгеновского спектрального анализа (XRR, X-ray reflectance), точечного рентгенофлуоресцентного анализа (micro-spot X-ray fluorescence, micro-XRF, микрорентгенофлуоресцентный анализ), малоуглового рассеяния рентгеновского излучения (SAXS, small angle X-Ray scattering), рентгеновской дифракции высокого разрешения (HRXRD, high resolution X-ray diffraction) и широкоугольной дифракции рентгеновского излучения (WAXRD, wide angle X-ray diffraction). Jordan Valley Semiconductors производит рентгеновские дифрактометры для изучения и контроля характеристик тонких плёнок (тонких слоев) на поверхности пластин полупроводниковых материалов. Компания производит рентгеновский дифрактометр высокого разрешения для научных исследований в области технологии полупроводниковых материалов, нанотехнологии, контроля качества наноматериалов.
Kratos Analytical Limited.
Английская приборостроительная фирма, дочернее предприятие японской компании Шимадзу Корпорэйшн (Shimadzu Corporation), производитель аналитического и научного оборудования, приборов для рентгеновского спектрального микроанализа поверхности материалов (рентгеновские фотоэлектронные спектрометры) и времяпролётных масс-спектрометров для научных иследований в области биохимии, биотехнологии, молекулярной биологи, фармакологии, фармацевтики (времяпролётные масс-спектрометры с лазерной десорбцией и ионизацией пробы, образца при содействии матрицы MALDI TOF-MS). Kratos Analytical Limited производит рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (X-ray photoelectron spectrometers, XPS) для микроанализа химического состава поверхности материалов.
Nytek Instruments.
Компания Nytek Instruments поставляет спектрофлуориметры, флуоресцентные аналитические микроскопы, Рамановские спектрометры, Рамановские аналитические микроскопы, приборы для определения толщины и химического состава тонких пленок (thin film ellipsometers - спектральные эллипсометры), оптико-эмиссионные спектрометры с индуктивно-связанной плазмой (атомно-эмиссионные спектрометры ИСП), оптические эмиссионные спектрометры тлеющего разряда (glow discharge spectrometers), лабораторные энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (EDXRF spectrometers), рентгеновские аналитические микроскопы (рентгенофлуоресцентные микроспектрометры для точечного элементного микроанализа), рентгенофлуоресцентный анализатор содержания серы в нефти и нефтепродуктах, УФ флуоресцентный прибор для определения содержания серы в нефти и нефтепродуктах, приборы для органического элементного анализа, приборы для определения кислорода, азота, водорода, серы, углерода (C H N O S analyzers). Компания поставляет оптические компоненты и функциональные блоки (модули) для производства оптических спектрометров, комплектующие детали и запасные части для спектрометров, аксессуары и расходные материалы для хроматографического и спектрального анализа. Поставляет сменные детали для систем ввода пробы для спектрометров индуктивно-связанной плазмы (горелки, распылители пробы для ИСП спектрометров), сменные лампы для атомно-абсорбционных спектрометров (одноэлементные лампы, многоэлементные лампы для атомно-абсорбционных спектрофотометров). Поставляет капиллярные колонки для газовых хроматографов, хромато-масс-спектрометров, колонки для ВЭЖХ. Компания также поставляет лабораторные генераторы чистых газов (генераторы азота, водорода), лабораторные компрессоры и системы очистки воздуха для аналитического оборудования (генераторы чистого воздуха для лабораторий).
Oxford Instruments plc.
Английская приборостроительная компания, производитель аналитического и научного оборудования: ЯМР спектрометров, приборов для элементного микроанализа, рентгенофлуоресцентных спектрометров, портативных рентгенофлуоресцентных анализаторов металлов, анализаторов серы в нефти, толщиномеров, оптико-эмиссионных анализаторов состава металла, марки сплава, криогенной техники.
Компания Oxford Instruments производит портативные рентгенофлуоресцентные спектрометры с рентгеновской трубкой, ручные рентгенофлуоресцентные анализаторы состава металла, марки сплава (для сортировки лома металла, технологического контроля), компактные лабораторные волновые рентгенофлуоресцентные спектрометры, энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (EDXRF analyzer), рентгенофлуоресцентные анализаторы содержания серы в нефти и нефтепродуктах. Производит толщиномеры, рентгенофлуоресцентные анализаторы толщины и химического состава многослойных покрытий, анализаторы содержания драгоценных металлов, золота (анализаторы толщины покрытий из драгоценного метала, позолоты в каратах). Компания производит оптико-эмиссионные спектрометры для определения состава металла, марки сплава, сортировки лома: мобильные оптико-эмиссионные анализаторы состава металла, лабораторные оптико-эмиссионные анализаторы элементного состава металлов, сталей, сплавов. Oxford Instruments производит оборудование для элементного микроанализа и электронной микроскопии, рентгенофлуоресцентные микроспектрометры для расширения аналитических возможностей просвечивающих электронных микроскопов, растровых электронных микроскопов (EDS, energy dispersive microanalysis system, WDS, wavelength dispersive microanalysis system, EBSD, electron backscatter diffraction microanalysis system). Производит рентгеновские трубки, источники рентгеновского излучения для аналитических и научных приборов.
Parallax Research, Inc.
Американская приборостроительная компания, производитель приборов, оборудования для рентгеновского спектрального элементного микроанализа, рентгеновских микроспектрометров, рентгеновской оптики и компонентов для аналитических электронных микроскопов, приборов для микроанализа поверхности материалов, Оже спектрометров, рентгенофлуоресцентных спектрометров. Parallax Research производит аналитические приставки, дополнительное оборудование для сканирующих электронных микроскопов, просвечивающих электронных микроскопов, приборов для исследования микроструктуры и химического состава поверхности материалов (electron probe microanalyzers, EPMA), Оже спектрометров (Auger microanalyzers). Компания Parallax Research производит волновые рентгеновские микроспектрометры (WDS), энергодисперсионные рентгеновские микроспектрометры и комбинированную систему для рентгеновского спектрального элементного микроанализа (WDS + EDS microanalysis package - волновой рентгеновский микроспектрометр + энергодисперсионный микроспектрометр) для установки на сканирующий электронный микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, электроннолучевой микроанализатор химического состава поверхности образца, Оже спектрометр. Специализация компании Parallax Research - спектрометры и дополнительное оборудование для низкоэнергетического рентгеновского спектрального элементного микроанализа, для определения лёгких элементов с более высокой чувствительностью (на порядок по утверждению компании). Компания производит дополнительную низкоэнергетическую рентгеновскую оптику для установки на энергодисперсперсионный рентгеновский спектрометр, что делает аналитический электронный микроскоп, электроннолучевой микроанализатор химического состава поверхности образца, Оже спектрометр более чувствительным, более эффективным прибором при определении лёгких элементов. По утверждению производителя дополнительная низкоэнергетическая рентгеновская оптика легко монтируется на энергодисперсионный спектрометр, повышает чувствительность по легким элементам на порядок и не мешает одновременному определению тяжёлых элементов. Компания Parallax Research производит волновой рентгеновский микроспектрометр с низкоэнергетической рентгеновской оптикой для установки на сканирующий электронный микроскоп. Наряду с рентгеновской оптикой, компания Parallax Research также производит детекторы рентгеновского излучения для рентгеновских микроспектрометров и рентгенофлуоресцентных спектрометров, компоненты для установки рентгеновского микроспектрометра на сканирующий электронный микроскоп (стыковки аналитической приставки с микроскопом).
Rigaku Corporation.
Rigaku Corporation и её дочерние компании производят волновые и энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (лабораторные и промышленные элементные анализаторы), рентгеновские дифрактометры (приборы для рентгеноструктурного анализа, кристалографии), рентгеновские аналитические приборы для полупроводниковой и микроэлектронной промышленности (отражательные рентгеновские спектрометры, спектрометры малоуглового рентгеновского рассеяния - small angle X-ray scattering, SAXS), приборы для термоанализа и лабораторную робототехнику (автоматизированное лабораторное оборудование для подготовки кристаллов белка для рентгеноструктурного исследования). Rigaku Corporation производит рентгенофлуоресцентные спектрометры для лабораторного и поточного элементного анализа, включая приборы для определения химического состава и толщины слоев покрытий на поверхности материалов, полупроводников, интегральных микросхем (рентгеновские аналитические установки для контроля технологических процессов для полупроводниковой и микроэлектронной промышленности, рентгеновские спектрометры и дифрактометры для контроля качества поверхности кремниевых пластин). Призводит рентгеновские микроспектрометры - рентгеновские аналитические микроскопы для точечного элементного анализа, элементного картирования и построения трёхмерного графического отображения распределения химических элементов в поверхностном слое материалов, полупроводников, геологических проб, образцов минералов, объектов криминалистического исследования (X-ray imaging). Производит промышленный поточный рентгено-абсорбционный анализатор содержания серы в сырой нефти, нефтепродуктах, мазуте, дизельном топливе (in-line X-ray transmission sulfur analyzer, XRT sulfur gauge). Rigaku Corporation производит рентгеновскую оптику, источники (генераторы) рентгеновского излучения, детекторы рентгеновских лучей для рентгеновских спектрометров, рентгенофлуоресцентных элементных анализаторов, рентгеновских дифрактометров, приборов для рентгеноструктурного анализа, рентгеноструктурного иследования белка. Компания также производит рентгеновские анализаторы остаточного напряжения в материалах для материаловедения (X-ray stress analyzer).
Rigaku Corporation производит полный комплект автоматизированного лабораторного оборудования, приборов для рентгеноструктурного анализа, кристаллографии белка, рентгеноструктурного иследования молекулы белка (лабораторная робототехника для пробоподготовки, выращивания кристаллов белка, рентгеновские дифрактометры и программное обеспечение для рентгеноструктурного анализа белка, автоматизированные установки для кристаллографии белка, изучения структуры молекул белка - protein crystal imaging and analysis system).к
Roenalytic GmbH (бывшая Roentgenanalytik Messtechnik GmbH).
Немецкая приборостроительная компания Roenalytic GmbH (до октября 2008 называлась Roentgenanalytik Messtechnik GmbH, Германия)- известный производитель приборов для рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава покрытий на поверхности материалов, измерения толщины покрытий, неразрушающего экспресс-анализа сплавов драгоценных металлов, определения содержания драгоценных металлов, золота в ювелирных сплавах, ювелирных изделях, измерения толщины слоя позолоты, точечного рентгенофлуоресцентного микроанализа. Компания Roenalytic GmbH (бывшая Roentgenanalytik Messtechnik GmbH) специализируется на разработке и производстве рентгенофлуоресцентных спектрометров (рентгенофлуоресцентных анализаторов) с момента своего основания в 1982 году. Компания Roenalytic GmbH производит универсальные и специализированные рентгенофлуоресцентные спектрометры - элементные анализаторы и  толщиномеры: рентгенофлуоресцентные анализаторы химического состава и толщины покрытий на поверхности материалов, деталей, промышленных изделий, лабораторный рентгенофлуоресцентный спектрометр для рутинного элементного анализа различных образцов, включая жидкие образцы, определения состава и толщины покрытий, рентгенофлуоресцентный анализатор содержания золота в сплавах драгоценных металлов и ювелирных изделиях (анализатор содержания золота, драгоценных металлов в сплавах).
Roenalytic GmbH производит специализированный рентгенофлуоресцентный спектрометр для неразрушающего экспресс-анализа сплавов драгоценных металлов, определения содержания драгоценных металлов, золота в ювелирных сплавах, ювелирных изделях, измерения толщины слоя позолоты - рентгенофлуоресцентный анализатор золота, ювелирных сплавов на основе золота и других драгоценных металлов (XRF precious metals analyzer, noble metals analyzer, gold analyzer). Прибор GoldCheck обеспечивает быстрый и неразрушающий анализ содержания драгоценного металла (золота) в ювелирных изделиях (определение содержание золота в процентах и каратах) и определение толщины покрытия из драгоценных металлов, золота на поверхности ювелирных изделий, промышленной продукции (измерение, определение толщины слоя позолоты). Рентгенофлуоресцентный анализатор содержания драгоценных металлов, золота в сплавах позволяет точно сфокусировать пучок рентгеновских лучей на образце (ювелирное украшение, слиток, монета) и за небольшое время определить содержание золота в образце, ювелирном изделии с высокой точностью.
Компания Roenalytic GmbH производит микро-рентгенофлуоресцентные спектрометры с капиллярной рентгеновской оптикой (micro-XRF analyzers - рентгенофлуоресцентные спектрометры с фокусированным рентгеновским лучём)- приборы для рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа, точечного определения химического состава образца, сканирования и элементного картирования поверхности материалов, покрытий, микросхем, элементного анализа небольших образцов, анализа включений в образце. Рентгенофлуоресцентный микроспектрометр обеспечивает точечный анализ, линейное сканирование и элементное картирование поверхности образца с разрешением в 20 микрометров (минимальный диаметр анализируемого пятна). Компания Roenalytic GmbH производит семейство приборов для рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа, отличающиеся рентгеновской оптикой (различная конструкция рентгеновской линзы). Компания Roenalytic GmbH производит также специализирован рентгенофлуоресцентный анализатор химического состава керна осадка (XRF sediment core analyzer)- рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с фокусированным рентгеновским лучем для послойного сканирования керна осадки, послойного анализа химического состава образца осадка.
Scientific Instruments (Научные Приборы).
Научные Приборы (Санкт-Петербург)- российский производитель рентгеновского аналитического оборудования, лабораторных и портативных приборов для рентгенофлуоресцентного анализа и микроанализа элементного состава материалов, металлов, сплавов (рентгенофлуоресцентных анализаторов), приборов для рентгеноструктурного анализа, лазерных приборов для измерения размера частиц сыпучих материалов, порошков. Компания производит лабораторный рентгенофлуоресцентный анализатор, портативный (ручной) рентгенофлуоресцентный анализатор состава металла, сплава, рентгенофлуоресцентный микроспектрометр для точечного микроанализа элементного состава поверхности материалов (рентгеновский аналитический микроскоп), рентгеновские дифрактометры, рентгеновский микродифрактометр. Компания Научные Приборы также производит лазерный анализатор размера частиц сыпучих материалов, порошка.
Shimadzu Corporation.
Shimadzu Corporation (Шимадзу)- приборостроительная компания, один из мировых лидеров в области аналитического и научного приборостроения, производитель аналитического оборудования (приборов и оборудования для хроматографии и спектроскопии, масс спектрометрии и хромато-масс-спектрометрии, элементного анализа, термоанализа, экологического мониторинга), лабораторного оборудования (лабораторных весов, аналитических весов и анализаторов влажности), научного оборудования (рентгеновских спектрометров и дифрактометров, флуориметров, масс-спектрометров, хромато-масс-спектрометров, сканирующих электронных микроскопов, атомно-силовых микроскопов), приборов для материаловедения и оборудования для испытания материалов (капиллярных реометров, испытательных машин, разрывных машин, твердомеров), измерительного оборудования (калориметров, влагомеров, вискозиметров, плотномеров и других измерительных приборов).
Shimadzu Corporation (Шимадзу) производит приборы и оборудование для оптической спектроскопии, рентгенофлуоресцентного анализа, масс-спектрометрии, элементного анализа: анализаторы общего углерода, анализаторы общего азота, общего неорганического углерода, анализаторы общего органического углерода (TC, TN, TIC, TOC analyzers), атомно-абсорбционные спектрометры с пламенной и электротермической атомизацией образца, искровые оптико-эмиссионные спектрометры - анализаторы элемнтного состава металлов и сплавов, спектрометры с индуктивно-связанной плазмой, спектрофлуориметры, ИК-Фурье спектрометры, инфракрасные аналитическое микроскопы, УФ спектрофотометры, спектрометры в ультрафиолетовой и видимой области спектра, времяпролётные масс-спектрометры с лазерной десорбцией и ионизацией пробы при содействии матрицы (MALDI TOF MS), рентгенофлуоресцентные спектрометры (рентгено-флуоресцентные анализаторы), рентгеновские дифрактометры, оптические компоненты (голографические решётки).
Shimadzu Corporation (Шимадзу) производит сканирующие электронные микроскопы (SEM), аналитические сканирующие электронные микроскопы (SEM-EDX combined microanalysis system), сканирующие зондовые микроскопы (SPM, атомно-силовые микроскопы), электроннолучевые спектрометры для микроанализа и картирования элементного состава образца (electron probe microanalyzer (EPMA), энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (рентгенофлуоресцентные аналитические микроскопы).
SPECS Surface Nano Analysis GmbH.
SPECS Surface Nano Analysis GmbH (Берлин, Германия)- производитель микроаналитических приборов для определения химического состава и микроструктуры поверхности полупроводниковых материалов, наноматериалов (электронные спектрометры, рентгеновские микроспектрометры, масс-спектрометры вторичных ионов, атомно-силовые электронные микроскопы). Компания SPECS Surface Nano Analysis GmbH производит электронный спектрометр для микроанализа химического состава поверхности материалов, масс-спектрометр вторичных ионов, рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, Оже спектрометр, аналитические электронные микроскопы для различных вариантов спектрального анализа химического состава и микроструктуры поверхности (electron energy loss spectrometry, EELS , low energy electron microscopy + photoelectron emission microscopy, LEEM + PEEM, low energy electron diffraction, LEED), фотоэмиссионный спектрометр, времяпролетный спектрометр, приборы для сканирующей туннельной микроскопии и микроанализа (scanning tunneling spectroscopy and microscopy, STM). SPECS Surface Nano Analysis GmbH производит комплектные приборы для электронной и ионной спектроскопии (hemispherical energy analyzers), неконтактный атомно-силовой микроскоп (non-contact atomic force microscope, NC-AFM system), сканирующий туннельный микроскоп (Joule-Thomson scanning tunneling microscope). Компания SPECS Surface Nano Analysis GmbH предлагает комбинированные приборы для спектроскопии, микроскопии и микроанализа с возможностью пробоподготовки. Компания также производит электронную и ионную оптику, ионные источники, анализаторы, монохроматоры, детекторы для микроспектрометров, аналитических электронных микроскопов, комплектных систем для электронной микроскопии и микроанализа поверхности материалов.
Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов.
.
Статистика LiveInternet (multilanguage statistics). Статистика счетчика Rambler's  Top 100.       .
Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования.
-
Приборы для рентгеновской спектроскопии, рентгенофлуоресцентного микроанализа, рентгенофлуоресцентные анализаторы, аналитические системы для элементного микроанализа и компьютерной обработки изображений (составление графической элементной карты микростуктуры поверхности материалов и объектов по результатам электронной микроскопии и рентгенофлюоресцентного анализа).