Аналитические приборы и лабораторное оборудование, газовые хроматографы, хромато-масс-спектрометры, газохроматографические анализаторы, приборы для ВЭЖХ, высокоэффективные жидкостные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, ИК-Фурье спектрометры, Рамановские спектрометры, БИК спектрометры, промышленные БИК анализаторы пищевых продуктов, УФ спектрофотометры, флуориметры, спектрофлуориметры, атомно-абсорбционные спектрофотометры, элементные анализаторы, рентгенофлуоресцентные спектрометры для анализа металла, оптико-эмиссионные анализаторы элементного состава металлов, сплавов, спектрометры ИСП, масс-спектрометры, газоаналитические приборы, масс-спектрометрические газоанализаторы.
Classified catalogue of the manufacturers and suppliers of analytical instruments, analytical equipment, laboratory equipment. Систематический каталог производителей и поставщиков аналитического оборудования, лабораторного оборудования.
Current edition (since March 13, 1998)- Текущая редакция  (с 13 марта 1998).
Manufacturers and suppliers of surface analysis equipment, surface analysis instrumentation, surface microanalysis, microspectroscopy instrumentation (FTIR microscopes, Raman microscope and imaging systems, fluorescence analytical microscopes, fluorescence microspectrometers, X-ray fluorescence microspectrometers, XRF microscopes, scanning electron microscopes, scanning probe microscopes, atomic force microscopes, transmission electron microscopes, electron probe microanalyzers, electron backscatter diffraction, EBSD, EDS microanalysis and imaging instruments for analytical SEM, TEM systems, EELS, electron energy loss spectrometers, Auger spectrometers, XPS, X-ray photoelectron spectrometers, secondary ion mass spectrometers, SIMS microprobe analyzers, microhardness testers, nanoindentors). Производители и поставщики оборудования, приборов для анализа   состава и микроструктуры поверхности образца (аналитические ИК-Фурье микроскопы, Рамановские микроскопы, флуоресцентные микроскопы, рентгенофлуоресцентные аналитические микроскопы, растровые, сканирующие, электронные микроскопы, сканирующие зондовые микроскопы, атомно-силовые микроскопы, микрозонды, просвечивающие электронные микроскопы, приборы для анализа дифракции отражённых электронов, элементного картирования, Оже спектрометры, рентгеновские фотоэлектронные спектрометры, масс-спектрометры вторичных ионов для точечного анализа поверхности материалов, микротвердомеры, наноинденторы).
Manufacturers and suppliers of surface characterization (surface science, material surface analysis, surface testing) equipment, instruments, systems. Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для изучения, анализа, испытания свойств поверхности материалов.
International companies index. Международный указатель компаний.
Related sections of the catalogue: Связанные, смежные разделы каталога:
Manufacturers and suppliers of surface testing (coating testing) equipment, instruments, systems (hardness testers and indenters, surface flatness and roughness testers, coating thickness measurement instrumentation). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для испытания, определения свойств поверхности материалов и покрытий (твёрдости, ровности поверхности, толшины покрытия).
Manufacturers and suppliers of tensiometers and contact angle goniometers (surface tension measurement, contact angle measurement instrumentation). Производители и поставщики тензиометров и гониометров для измерения поверхностного натяжения жидкости и угла смачивания.
Manufacturers and suppliers of equipment, instruments, systems for optical microscopy, electron microscopy, surface microanalysis (scanning probe microscopes, analytical FT-IR and Raman microscopes, X-ray microscopes). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для оптической микроскопии, электронной микроскопии, микроанализа (аналитических ИК, Рамановских, рентгеновских микроскопов).
Manufacturers and suppliers of electron microscopy equipment, instruments, systems (electron microscopy instrumentation)- transmission electron microscopes (TEM systems), scanning electron microscopes (SEM systems), specimen preparation equipment for electron microscopy. Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для электронной микроскопии и микроанализа (просвечивающих и растровых электронных микроскопов, оборудования для подготовки образца для электронной микроскопии.
Manufacturers and suppliers of transmission electron microscopes (TEM systems). Производители и поставщики просвечивающих электронных микроскопов.
Manufacturers and suppliers of scanning electron microscopes (SEM systems). Производители и поставщики растровых электронных микроскопов, сканирующих электронных микроскопов.
Manufacturers and suppliers of scanning probe microscopes (SPM systems), atomic force microscopes (AFM systems). Производители и поставщики сканирующих зондовых микроскопов, атомно-силовых микроскопов.
Manufacturers and suppliers of infrared spectroscopy equipment, instruments, systems (Fourier transform infrared or FTIR spectroscopy instrumentation, near infrared or NIR spectroscopy instrumentation, Raman spectroscopy instrumentation, FT-IR, NIR and FT-NIR spectrometers, Raman spectrometers, FT-IR and Raman microscopes, ATR systems). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для инфракрасной спектроскопии, Рамановской спектроскопии (инфракрасных, ИК-Фурье, Рамановских спектрометров и аналитических микроскопов, БИК спектрометров для ближней инфракрасной области спектра, НПВО систем).
Manufacturers and suppliers of secondary ion mass spectrometers for surface analysis (secondary ion mass-spectrometry instrumentation, surface analysis mass spectrometry instrumentation, SIMS systems for surface analysis). Производители и поставщики масс-спектрометров вторичных ионов для анализа химического состава поверхности материалов (масс-спектрометрического анализа поверхности материалов).
Manufacturers and suppliers of X-ray microanalysis systems, micro XRF analyzers (X-ray microanalysis instrumentation, micro-XRF analysis systems, micro EDXRF analysis systems, X-ray fluorescence spectrometers for surface microanalysis, element mapping and imaging). Производители и поставщики рентгеновских микроаналитических систем, микро-рентгено-флуоресцентных спектрометров для элементного микроанализа поверхности материалов, элементного картирования, визуализации химического состава поверхности.
Manufacturers and suppliers of particle characterization (particle shape analysis, particle size measurement) equipment, instruments, systems (particle characterization instrumentation, particle analyzers). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для определения, измерения, анализа характеристик (размера, формы) частиц дисперсных материалов, порошков, суспензий.
Manufacturers and suppliers of materials testing equipment, material testing instruments, materials testing machines (materials testing instrumentation), environmental chambers, climatic test chambers, thermal testing chambers. Производители и поставщики оборудования для испытания материалов, приборов, машин для испытания материалов, испытательных камер, климатических камер, термокамер.
Manufacturers and suppliers of metallographic sample, metallographic specimen preparation equipment (sample preparation equipment for metallography, materialography, cutting and sectioning machines, wire saws, diamond wheel saws, lapping and polishing machines, mounting presses. Производители и поставщики оборудования, систем для подготовки образцa для металлографии, материалографии (отрезных станков, дисковых пил, шлифовальных и шлифовально-полировальных станков, шлифовальных машин, заливочных прессов для образцов).
Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов.
.
Статистика LiveInternet (multilanguage statistics). Статистика счетчика Rambler's  Top 100.       .
Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования.
-
Аналитические приборы для элементного микроанализа и компьютерной обработки изображений (составление графической элементной карты микростуктуры поверхности материалов и объектов по результатам электронной микроскопии и рентгенофлуоресцентного анализа).