Аналитические приборы и лабораторное оборудование, газовые хроматографы, хромато-масс-спектрометры, газохроматографические анализаторы, приборы для ВЭЖХ, высокоэффективные жидкостные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, ИК-Фурье спектрометры, Рамановские спектрометры, БИК спектрометры, промышленные БИК анализаторы пищевых продуктов, УФ спектрофотометры, флуориметры, спектрофлуориметры, атомно-абсорбционные спектрофотометры, элементные анализаторы, рентгенофлуоресцентные спектрометры для анализа металла, оптико-эмиссионные анализаторы элементного состава металлов, сплавов, спектрометры ИСП, масс-спектрометры, газоаналитические приборы, масс-спектрометрические газоанализаторы.
Manufacturers and suppliers of surface analysis equipment, surface analysis instrumentation, surface microanalysis, microspectroscopy instrumentation (FTIR microscopes, Raman microscope and imaging systems, fluorescence analytical microscopes, fluorescence microspectrometers, X-ray fluorescence microspectrometers, XRF microscopes, scanning electron microscopes, scanning probe microscopes, atomic force microscopes, transmission electron microscopes, electron probe microanalyzers, electron backscatter diffraction, EBSD, EDS microanalysis and imaging instruments for analytical SEM, TEM systems, EELS, electron energy loss spectrometers, Auger spectrometers, XPS, X-ray photoelectron spectrometers, secondary ion mass spectrometers, SIMS microprobe analyzers, microhardness testers, nanoindentors). Производители и поставщики оборудования, приборов для анализа   состава и микроструктуры поверхности образца (аналитические ИК-Фурье микроскопы, Рамановские микроскопы, флуоресцентные микроскопы, рентгенофлуоресцентные аналитические микроскопы, растровые, сканирующие, электронные микроскопы, сканирующие зондовые микроскопы, атомно-силовые микроскопы, микрозонды, просвечивающие электронные микроскопы, приборы для анализа дифракции отражённых электронов, элементного картирования, Оже спектрометры, рентгеновские фотоэлектронные спектрометры, масс-спектрометры вторичных ионов для точечного анализа поверхности материалов, микротвердомеры, наноинденторы).
Manufacturers and suppliers of electron microscopy equipment, instruments, systems (electron microscopy instrumentation)- transmission electron microscopes (TEM systems), scanning electron microscopes (SEM systems), specimen preparation equipment for electron microscopy. Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для электронной микроскопии и микроанализа (просвечивающих и растровых электронных микроскопов, оборудования для подготовки образца для электронной микроскопии.
International companies index. Международный указатель компаний.
CAMECA.
Французская приборостроительная компания (подразделение AMETEK Materials Analysis Division), производитель аналитического оборудования для полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, нанотехнологий, материаловедения, геохимии, приборов для изучения микроструктуры материалов, анализа химического и изотопного состава поверхности полупроводниковых материалов, наноматериалов, геологических образцов, элементного картирования на уровне микрометров и нанометров. Компания CAMECA производит приборы для микроанализа на основе рентгеновской эмиссионной спектроскопии: низкоэнергетические рентгеновские эмиссионные микроспектрометры для неразрушающего послойного анализа элементного состава полупроводниковых материалов, микросхем (low energy X-ray emission spectrometry microanalysis systems), электронно-зондовые микроаналитические системы (EPMA, electron probe microanalysis systems), включающие высокоэнергетическую (40 кВ) электронную пушку для определения тяжёлых элементов, работающие параллельно волновые рентгеновские эмиссионные микроспектрометры (до 5 волновых рентгеновских спектрометров) + энергодисперсионный рентгеновский эмиссионный микроспектрометр, оптический микроскоп + детектор для полевой ионной микроскопии (FIM, field ion microscopy detector) для металлографического анализа. Электронно-зондовая микроаналитическая система (EPMA, electron probe microanalysis systems) работает аналогично системе включающей сканирующий электронный микроскоп (SEM) и рентгенофлуоресцентный зондовый микроспектрометр, но обладает более широкими возможностями для элементного микроанализа и картирования химического состава поверхности материалов. CAMECA производит магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава поверхности материалов, полупроводниковых пластин, микросхем, геологических образцов, минералов (magnetic sector SIMS microprobe analyzers, quadrupole SIMS microprobe analyzers). Производит также лазерные атомно-силовые аналитические микроскопы (laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system) для трехмерного элементного анализа и послойного картирования на уровне микрометров и нанометров. CAMECA производит по заказу экранированные микроаналитические системы для радиоактивных образцов (масс-спектрометры вторичных ионов и электронные аналитические микроскопы для работы с радиоактивными материалами). 
Компания CAMECA производит промышленное микроаналитическое оборудование для неразрушающего контроля качества кремниевых пластин с микросхемами для полупроводниковой промышленности, микроэлектронной промышленности (автоматизированные приборы для аналитического контроля технологических процессов при производстве интегральных микросхем): поточный рентгеновский эмиссионный спектрометр - анализатор полупроводниковых пластин (in-line low energy X-ray emission spectrometer system) и автоматизированный квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов для анализа поверхности полупроводниковых пластин (automated full wafer quadrupole SIMS analyzer).
Carl Zeiss AG.
Carl Zeiss (Карл Цейс)- производитель аналитических и научных приборов, исследовательского, научного оборудования, такого как оптические микроскопы, электронные микроскопы, лабораторные и промышленные аналитические приборы, системы для спектрального химического анализа. Carl Zeiss (Карл Цейс) производит оптические приборы для научных исследований, оптические и опто-электронные компоненты для аналитических и научных приборов. Производит оптические микроскопы различного типа, для научных исследований в области биологии, медицины, материаловедения, в том числе флуорецентные микроскопы, металлографические микроскопы. Производит сканирующие электронные микроскопы, просвечивающие электронные микроскопы. Carl Zeiss (Карл Цейс) производит лабораторные и промышленные оптические спектрометры для ультрафиолетового, видимого и ближнего инфракрасного (УФ - Вид - БИК) диапазона. Производит промышленные аналитические системы (поточные анализаторы) для непрерывного спектрального анализа, контроля технологических процессов, контроля качества сырья, готовой продукции пищевой, химической, фармацевтической промышленности. Промышленные спектроскопические системы (промышленные УФ, Вид. и БИК спектрометры - поточные анализаторы) выпускаются различных модификациях, включая промышленный спектрометр - поточный анализатор с опто-волоконным зондом.
EDAX.
Приборостроительная компания (входит в AMETEK Materials Analysis Division), производитель приборов для рентгенофлуоресцентного микроанализа, изучения микроструктуры материалов, кристаллографии, металлографии, элементного анализа в сочетании с электронной микроскопией (зондовые рентгенофлуоресцентные микроспектрометры для сканирующих электронных микроскопов и просвечивающих электронных микроскопов, ДОЭ-приставки для дифракции отраженных электронов в растровом электронном микроскопе). Компания EDAX производит зондовые волновые рентгенофлуоресцентные спектрометры для установки на сканирующие электронные микроскопы (SEM systems) и просвечивающие электронные микроскопы (TEM systems). Производит энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные зондовые микроспектрометры для установки на электронные микроскопы. Производит многофункциональные приборы для элементного микроанализа, картирования и изучения микроструктуры материалов, кристаллографии - на электронный микроскоп одновременно устанавливаются: энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр и приставка для дифракции отраженных электронов, ДОЭ (EDS + EBSD system), энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр и волновой рентгенофлуоресцентные спектрометр (EDS + WDS system), энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр, приставка для дифракции отраженных электронов и волновой рентгенофлуоресцентные спектрометр (EDS + EBSD + WDS system). Компания EDAX производит рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (micro-XRF spectrometers, micro-XRF analyzers, рентгеновские аналитические микроскопы) для точечного анализа элементного состава материала, металла, неразрушающего контроля качества в микроэлектронной промышленности, измерения толщины и химического состава покрытий, материаловедения, геологии, минералогии, криминалистики, судебно-химической экспертизы.
FEI Company.
Транснациональная приборостроительная компания, производитель сканирующих электронных микроскопов, просвечивающих электронных микроскопов, оборудования для электронной микроскопии и элементного микроанализа, приборов для микроструктурного анализа с помощью дифракции отражённых электронов, эмиссионной рентгеновской спектроскопии, рентгеновского микроанализа химического состава поверхности материалов, полупроводников, контроля качества в микроэлектронной промышленности. FEI Company производит сканирующие электронные микроскопы, просвечивающие электронные микроскопы, комбинированные двухлучевые приборы для электронной / ионной микроскопии, трёхмерного микроструктурного и  элементного микроанализа (SEM/FIB systems), приборы с фокусированным ионным пучком (focused ion beam, FIB systems) для трёхмерного микроструктурного анализа и обнаружения дефектов полупроводниковых пластин, подготовки образца для анализа на просвечивающем электронном микроскопе. Компания производит приборы высокого класса как для научных исследований в области материаловедения, создания новых наноматериалов, нанотехнологии, микроэлектроники, так и для технологического контроля на производстве интегральных микросхем. 
FEI Company производит системы объединяющие сканирующий электронный микроскоп и просвечивающий электронный микроскоп (scanning / transmision electron microscope, S/TEM system), сканирующий электронные микроскоп и рентгеновский энергодисперсионный спектрометр, рентгеновский волновой спектрометр, оборудование для дифракции отраженных электронов, полевой эмиссионной спектрометрии (SEM + EBIC, EDS, WDS, EBSD, FEG = аналитический сканирующий электронный микроскоп). Компания производит сканирующие электронные микроскопы со встроенной ионной оптикой, двухлучевые системы (FIB/SEM systems)- в этих приборах к возможностям трехмерного микроструктурного анализа и элементного микроанализа добавляется подготовка образца с помощью сфокусированного ионного пучка для анализа на просвечивающем электронном микроскопе. FEI Company производит ионно-лучевые приборы (focused ion beam, FIB systems) для трёхмерного анализа микроструктуры поверхности кремниевых полупроводниковых пластин, обнаружения дефектов, непрерывного технологического контроля качества на производстве интегральных микросхем, производит автоматизированный анализатор дефектов полупроводниковых пластин для предприятий микроэлектронной промышленности.
Gatan, Inc.
Компания Gatan производит дополнительное оборудование и программное обеспечение расширяющие возможности сканирующих электронных микроскопов и просвечивающих электронных микроскопов. Производитель оборудования для электронной микроскопии, приборов для элементного микроанализа, элементного картирования, аналитических микроскопов, спектрометров для электронных микроскопов, цифровых систем обработки изображения, построения трёхмерного отображения микроструктуры образца, лабораторного оборудования для пробоподготовки. Компания Gatan производит широкий спектр дополнительного оборудования, приборов для спектрального анализа которые устанавливаются на сканирующий электронный микроскоп или просвечивающий электронный микроскоп и превращают его в аналитический микроскоп, систему для послойного изучения микроструктуры и химического состава образца с высоким разрешением (нанометры), компьютерного анализа изображения, построения трехмерной модели внутренней структуры образца, томографического исследования микроструктуры образца (3D tomographic imaging). Gatan производит лабораторное оборудование для подготовки образца для электронной микроскопии, микроструктурного анализа, держатели образца для просвечивающих электронных микроскопов (широкий спектр держателей образца для различных вариантов электронной микроскопии, микроанализа, с нагревом образца, охлаждением образца, криогенным охлаждением образца, томографического исследования внутренней структуры образца). Производит охлаждаемые цифровые камеры для просвечивающих электронных микроскопов (cooled CCD cameras for transmission electron microscopes) которые можно установить на любой просвечивающий электронный микроскоп и получить прибор с широкими аналитическими возможностями. Производит спектрометры для аналитических просвечивающих электронных микроскопов (electron energy loss spectroscopy, EELS systems, energy-filtered TEM, EFTEM systems). Производит оборудование для сканирующей - просвечивающей электронной микроскопии (scanning-mode TEM, STEM), криогенные системы охлаждения для сканирующих электронных микроскопов, аналитические приставки, рентгеновские спектрометры, программное обеспечение для спектрального анализа, катоднолюминисцентного анализа, наблюдения дифракции отраженных электронов, трехмерной томографии для сканирующих электронных микроскопов. Для трёхмерной электронной микроскопии биологических образцов компания Gatan производит специальный ультрамикротом для работы со сканирующим электронным микроскопом, который делает срезы во время исследования образца (послойное сканирование образца). Компания Gatan производит также ренгеновский микроскоп, который монтируется на сканирующий электронный микроскоп (SEM-hosted high resolution X-ray microscope) и работает совместно с ним, что позволяет изучать внутреннюю структуру образца без получения среза.
IXRF Systems, Inc.
Американская приборостроительная компания, специализация - дополнительное микроаналитическое оборудование для электронной микроскопии, приборы для элементного картирования и количественного элементного микроанализа, рентгенофлуоресцентного микроанализа химического состава поверхности материалов (рентгеновские аналитические приборы для электронных микроскопов). Производитель рентгеновских эмиссионных микроспектрометров, рентгенофлуоресцентных микроспектрометров для электронных микроскопов. Компания IXRF Systems производит аналитические приставки к электронным микроскопам: энергодисперсионные рентгеновские микроспектрометры (EDS detectors, EDS microanalysis and imaging systems for electron microscopes) и энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (micro-EDXRF spectrometer system). Предлагает модернизацию и расширение возможностей рентгеновских спектрометров установленных на электронный микроскоп (EDS system upgrades). Компания IXRF Systems производит встраиваемые приборы для проведения количественного рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа материалов, исследуемых на электронном микроскопе, например геологических образцов (integrated XRF microanalysis in the SEM): источник сфокусированного рентгеновского излучения для установки на сканирующий электронный микроскоп, оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром, и комплектный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с поликапиллярной рентгеновской оптикой для сканирующих электронных микроскопов (micro-XRF spectrometer system). Использование дополнительного рентгеновского излучения для возбуждения образца по сравнению с электронным лучём сканирующего электронного микроскопа улучшает соотношение сигнал/шум более чем на порядок, повышает чувствительность и точность определения элементного состава образца, обеспечивает количественный элементный анализ образца внутри сканирующего электронного микроскопа. Поликапиллярная рентгеновская оптика рентгенофлуоресцентного микроспектрометра для сканирующих электронных микроскопов обеспечивает диаметр рентгеновского луча (анализируемое пятно на поверхности образца) в 40-60 микрометров. Рентгенофлуоресцентный микроспектрометр для установки на  сканирующий электронный микроскоп позволяет получить данные о микроструктуре образца, послойном элементном составе, толщине слоёв и распределении элементов на поверхности образца и внутри слоёв (рентгеновский аналитический микроскоп + сканирующий электронный микроскоп). Источник сфокусированного рентгеновского излучения для установки на сканирующий электронный микроскоп имеет больший диаметр рентгеновского луча (анализируемое пятно на поверхности образца)- от 500 микрометров, но также превращает сканирующий электронный микроскоп, оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром в рентгенофлуоресцентный анализатор. Источник сфокусированного рентгеновского излучения и рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с поликапиллярной рентгеновской оптикой монтируются на различные модели сканирующих электронных микроскопов и могут работать совместно с рентгеновскими микроспектрометрами других производителей.
JEOL Ltd.
Приборостроительная компания, производитель аналитического и научного оборудования, приборов для электронной микроскопии, изучения микроструктуры и наноструктуры образца, приборов для микроанализа химического состава поверхности материалов, приборов для спектрометрии ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса, приборов для масс-спектрометрии, хромато-масс-спектрометрии, рентгенофлуоресцентного элементного анализа, приборов для клинико-диагностической лаборатории, клинических биохимических анализаторов, аминокислотных анализаторов, лабораторных информационных систем. Компания JEOL производит просвечивающие электронные микроскопы, сканирующие электронные микроскопы, атомно-силовые микроскопы, приборы для спектрального микроанализа и послойного сканирования микроструктуры поверхности образца (electron probe microanalyzers, EPMA), аналитические сканирующие электронные микроскопы (сканирующий электронный микроскоп + энергодисперсионный спектрометр для элементного микроанализа), Оже спектрометры (field emission Auger microprobe analyzers), рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (X-Ray  photoelectron spectrometers, XPS). Компания JEOL производит секторные магнитные масс-спектрометры высокого разрешения, системы масс-спектрометр / масс-спектромер высокого разрешения (МС-МС). Производит магнитный секторный масс-спектрометр высокого разрешения для анализа диоксинов (магнитный масс-спектрометр для количественного определения диоксинов). Производит магнитные хромато-масс-спектрометры, квадрупольные хромато-масс-спектрометры, времяпролетные хромато-масс-спектрометры. JEOL производит магнитный газовый хромато-масс-спектрометр среднего разрешения (магнитный ГХ-МС), квадрупольный газовый хромато-масс-спектрометр (квадрупольный ГХ-МС), времяпролетный газовый хромато-масс-спектрометр (времяпролётный ГХ-МС), времяпролетный жидкостный хромато-масс-спектрометр (время-пролётный ВЭЖХ-МС). Компания JEOL производит исследовательские спектрометры ядерного магнитного резонанса высокого разрешения, спектрометры электронного парамагнитного резонанса (ЯМР спектрометры, ЭПР спектрометры). Производит рентгенофлуоресцентные спектрометры для элеметного анализа (лабораторный рентгенофлуоресцентный анализатор). Компания JEOL производит также автоматизированное (роботизированное) лабораторное оборудование, автоматизированные аналитические приборы для биохимической клинико-диагностической лаборатории: биохимический анализатор, аминокислотный анализатор, лабораторную информационную систему для клинико-диагностической лаборатории.
Kratos Analytical Limited.
Английская приборостроительная фирма, дочернее предприятие японской компании Шимадзу Корпорэйшн (Shimadzu Corporation), производитель аналитического и научного оборудования, приборов для рентгеновского спектрального микроанализа поверхности материалов (рентгеновские фотоэлектронные спектрометры) и времяпролётных масс-спектрометров для научных иследований в области биохимии, биотехнологии, молекулярной биологи, фармакологии, фармацевтики (времяпролётные масс-спектрометры с лазерной десорбцией и ионизацией пробы, образца при содействии матрицы MALDI TOF-MS). Kratos Analytical Limited производит рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (X-ray photoelectron spectrometers, XPS) для микроанализа химического состава поверхности материалов.
Oxford Instruments plc.
Английская приборостроительная компания, производитель аналитического и научного оборудования: ЯМР спектрометров, приборов для элементного микроанализа, рентгенофлуоресцентных спектрометров, портативных рентгенофлуоресцентных анализаторов металлов, анализаторов серы в нефти, толщиномеров, оптико-эмиссионных анализаторов состава металла, марки сплава, криогенной техники.
Компания Oxford Instruments производит портативные рентгенофлуоресцентные спектрометры с рентгеновской трубкой, ручные рентгенофлуоресцентные анализаторы состава металла, марки сплава (для сортировки лома металла, технологического контроля), компактные лабораторные волновые рентгенофлуоресцентные спектрометры, энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (EDXRF analyzer), рентгенофлуоресцентные анализаторы содержания серы в нефти и нефтепродуктах. Производит толщиномеры, рентгенофлуоресцентные анализаторы толщины и химического состава многослойных покрытий, анализаторы содержания драгоценных металлов, золота (анализаторы толщины покрытий из драгоценного метала, позолоты в каратах). Компания производит оптико-эмиссионные спектрометры для определения состава металла, марки сплава, сортировки лома: мобильные оптико-эмиссионные анализаторы состава металла, лабораторные оптико-эмиссионные анализаторы элементного состава металлов, сталей, сплавов. Oxford Instruments производит оборудование для элементного микроанализа и электронной микроскопии, рентгенофлуоресцентные микроспектрометры для расширения аналитических возможностей просвечивающих электронных микроскопов, растровых электронных микроскопов (EDS, energy dispersive microanalysis system, WDS, wavelength dispersive microanalysis system, EBSD, electron backscatter diffraction microanalysis system). Производит рентгеновские трубки, источники рентгеновского излучения для аналитических и научных приборов.
Parallax Research, Inc.
Американская приборостроительная компания, производитель приборов, оборудования для рентгеновского спектрального элементного микроанализа, рентгеновских микроспектрометров, рентгеновской оптики и компонентов для аналитических электронных микроскопов, приборов для микроанализа поверхности материалов, Оже спектрометров, рентгенофлуоресцентных спектрометров. Parallax Research производит аналитические приставки, дополнительное оборудование для сканирующих электронных микроскопов, просвечивающих электронных микроскопов, приборов для исследования микроструктуры и химического состава поверхности материалов (electron probe microanalyzers, EPMA), Оже спектрометров (Auger microanalyzers). Компания Parallax Research производит волновые рентгеновские микроспектрометры (WDS), энергодисперсионные рентгеновские микроспектрометры и комбинированную систему для рентгеновского спектрального элементного микроанализа (WDS + EDS microanalysis package - волновой рентгеновский микроспектрометр + энергодисперсионный микроспектрометр) для установки на сканирующий электронный микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, электроннолучевой микроанализатор химического состава поверхности образца, Оже спектрометр. Специализация компании Parallax Research - спектрометры и дополнительное оборудование для низкоэнергетического рентгеновского спектрального элементного микроанализа, для определения лёгких элементов с более высокой чувствительностью (на порядок по утверждению компании). Компания производит дополнительную низкоэнергетическую рентгеновскую оптику для установки на энергодисперсперсионный рентгеновский спектрометр, что делает аналитический электронный микроскоп, электроннолучевой микроанализатор химического состава поверхности образца, Оже спектрометр более чувствительным, более эффективным прибором при определении лёгких элементов. По утверждению производителя дополнительная низкоэнергетическая рентгеновская оптика легко монтируется на энергодисперсионный спектрометр, повышает чувствительность по легким элементам на порядок и не мешает одновременному определению тяжёлых элементов. Компания Parallax Research производит волновой рентгеновский микроспектрометр с низкоэнергетической рентгеновской оптикой для установки на сканирующий электронный микроскоп. Наряду с рентгеновской оптикой, компания Parallax Research также производит детекторы рентгеновского излучения для рентгеновских микроспектрометров и рентгенофлуоресцентных спектрометров, компоненты для установки рентгеновского микроспектрометра на сканирующий электронный микроскоп (стыковки аналитической приставки с микроскопом).
Shimadzu Corporation.
Shimadzu Corporation (Шимадзу)- приборостроительная компания, один из мировых лидеров в области аналитического и научного приборостроения, производитель аналитического оборудования (приборов и оборудования для хроматографии и спектроскопии, масс спектрометрии и хромато-масс-спектрометрии, элементного анализа, термоанализа, экологического мониторинга), лабораторного оборудования (лабораторных весов, аналитических весов и анализаторов влажности), научного оборудования (рентгеновских спектрометров и дифрактометров, флуориметров, масс-спектрометров, хромато-масс-спектрометров, сканирующих электронных микроскопов, атомно-силовых микроскопов), приборов для материаловедения и оборудования для испытания материалов (капиллярных реометров, испытательных машин, разрывных машин, твердомеров), измерительного оборудования (калориметров, влагомеров, вискозиметров, плотномеров и других измерительных приборов).
Shimadzu Corporation (Шимадзу) производит приборы и оборудование для оптической спектроскопии, рентгенофлуоресцентного анализа, масс-спектрометрии, элементного анализа: анализаторы общего углерода, анализаторы общего азота, общего неорганического углерода, анализаторы общего органического углерода (TC, TN, TIC, TOC analyzers), атомно-абсорбционные спектрометры с пламенной и электротермической атомизацией образца, искровые оптико-эмиссионные спектрометры - анализаторы элемнтного состава металлов и сплавов, спектрометры с индуктивно-связанной плазмой, спектрофлуориметры, ИК-Фурье спектрометры, инфракрасные аналитическое микроскопы, УФ спектрофотометры, спектрометры в ультрафиолетовой и видимой области спектра, времяпролётные масс-спектрометры с лазерной десорбцией и ионизацией пробы при содействии матрицы (MALDI TOF MS), рентгенофлуоресцентные спектрометры (рентгено-флуоресцентные анализаторы), рентгеновские дифрактометры, оптические компоненты (голографические решётки).
Shimadzu Corporation (Шимадзу) производит сканирующие электронные микроскопы (SEM), аналитические сканирующие электронные микроскопы (SEM-EDX combined microanalysis system), сканирующие зондовые микроскопы (SPM, атомно-силовые микроскопы), электроннолучевые спектрометры для микроанализа и картирования элементного состава образца (electron probe microanalyzer (EPMA), энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (рентгенофлуоресцентные аналитические микроскопы).
South Bay Technology, Inc.
Американская компания, производитель лабораторного оборудования для пробоподготовки (лабораторной техники для подготовки образцов для металлографии и электронной микроскопии). Компания South Bay Technology, Inc производит вспомогательное оборудование для материаловедения, инструменты и расходные материалы для подготовки образцов для металлографии (лабораторное оборудование металлографических исследований), кристаллографии и электронной микроскопии. Специализация компании South Bay Technology Inc - металлография, пробоподготовка для металлографии, отрезка образца, разрезание образца и распилка образцов, лапингование (притирка), шлифовка и полировка образца  для металлографии, измельчение образца, ориентация кристаллов, подготовка пробы для электронной микроскопии. Компания South Bay Technology Inc производит отрезные машины (отрезные станки), проволочные пилы, прецизионные алмазные дисковые пилы для отрезки образца, полировальные машины, станки для лапингования (притирочные станки или доводочные станки), шлифовальные станки и шлифовально-полировальные станки (шлифовальные машины и шлифовально-полировальные машины), помольное оборудование, установки для плазменной очистки, установки для ионного напыления, оборудование для хромирования, травильные машины (оборудование для плазменного или ионного травления образца), принадлежности для металлографии, гониометры и другое оборудование для прецизионной подготовки образца к металлографическому исследованию или электронной микроскопии.
SPECS Surface Nano Analysis GmbH.
SPECS Surface Nano Analysis GmbH (Берлин, Германия)- производитель микроаналитических приборов для определения химического состава и микроструктуры поверхности полупроводниковых материалов, наноматериалов (электронные спектрометры, рентгеновские микроспектрометры, масс-спектрометры вторичных ионов, атомно-силовые электронные микроскопы). Компания SPECS Surface Nano Analysis GmbH производит электронный спектрометр для микроанализа химического состава поверхности материалов, масс-спектрометр вторичных ионов, рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, Оже спектрометр, аналитические электронные микроскопы для различных вариантов спектрального анализа химического состава и микроструктуры поверхности (electron energy loss spectrometry, EELS , low energy electron microscopy + photoelectron emission microscopy, LEEM + PEEM, low energy electron diffraction, LEED), фотоэмиссионный спектрометр, времяпролетный спектрометр, приборы для сканирующей туннельной микроскопии и микроанализа (scanning tunneling spectroscopy and microscopy, STM). SPECS Surface Nano Analysis GmbH производит комплектные приборы для электронной и ионной спектроскопии (hemispherical energy analyzers), неконтактный атомно-силовой микроскоп (non-contact atomic force microscope, NC-AFM system), сканирующий туннельный микроскоп (Joule-Thomson scanning tunneling microscope). Компания SPECS Surface Nano Analysis GmbH предлагает комбинированные приборы для спектроскопии, микроскопии и микроанализа с возможностью пробоподготовки. Компания также производит электронную и ионную оптику, ионные источники, анализаторы, монохроматоры, детекторы для микроспектрометров, аналитических электронных микроскопов, комплектных систем для электронной микроскопии и микроанализа поверхности материалов.
Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов.
.
Статистика LiveInternet (multilanguage statistics). Статистика счетчика Rambler's  Top 100.       .
Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования.
-
Научное оборудование, аналитические и научные приборы, системы для электронной микроскопии и микроанализа, аналитические систем для элементного микроанализа и картирования химического состава поверхности материалов, оборудование для пробоподготовки, сканирующие электронные микроскопы, просвечивающие электронные микроскопы, атомно-силовые микроскопы, рентгеновские аналитические микроскопы, лабораторное вспомогательное оборудование и аксессуары для электронной микроскопии, спектрального микроанализа, рентгенофлуоресцентного микроанализа химического состава поверхности материалов.